С 18 по 20 мая 2010 г. РОСНАНО примет участие в Международной выставке-конкурсе средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология–2010» и 2-ом Московском Международном симпозиуме метрологов

Организатором мероприятий является Ростехрегулирование при содействии Правительства Российской Федерации, Минпромторга России, Роснауки, Роскосмоса, с участием ряда Международных и региональных организаций. Выставка «Метрология» является крупнейшим в РФ специализированным мероприятием, отражающим современное состояние метрологии в РФ и в мире, в том числе в области нанотехнологий, в котором Корпорация принимает активное участие с 2008 года.

В рамках данных мероприятий Корпорацией будут представлены созданная система метрологического обеспечения РОСНАНО, инвестиционные проекты по созданию измерительного оборудования в сфере нанотехнологий, а также Метрологический центр РОСНАНО, учрежденный в 2010 году с целью удовлетворения потребностей компаний наноиндустрии в метрологическом обеспечении, необходимом для выпуска качественной, конкурентоспособной, безопасной продукции, а также минимизации барьеров при ее выводе на международные рынки.