26-29 мая 2010 г. в Черноголовке состоялась 3-я школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии»

Школа была посвящена российской и международной практике в области обеспечения единства измерений и стандартизации в наноиндустрии, требованиям к методам измерений и испытаний в перспективных направлениях развития нанотехнологий для получения новых материалов и структур. В качестве основных направлений 3-ей школы были выбраны наноэлектроника и нанофотоника, в которых РОСНАНО имеет значительное количество инвестиционных проектов.

В работе школы приняли участие около 180 специалистов из 18 регионов России, а также Белоруссии, Казахстана, Швеции, Германии и Нидерландов. Лекции участникам прочитали 37 всемирно известных ученых и метрологов из ведущих институтов Российской академии наук, промышленности, Ростехрегулирования и ВУЗов. Состоялся круглый стол, где участники обсудили текущее состояние методического обеспечения метрологии в наноиндустрии, а представители Метрологического центра РОСНАНО рассказали о деятельности Корпорации по созданию системы метрологического обеспечения компаний.

Также в рамках школы прошла выставка, где были представлены презентации современного исследовательского и метрологического оборудования для наноиндустрии от ведущих компаний (НТ-МДТ, Токио-Боэки, Системы для микроскопии и анализа, PANalytical, НТНК).

Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии» - ежегодное мероприятие, направленное на повышение квалификации специалистов центров коллективного пользования, испытательных центров и лабораторий, компаний наноиндустрии в области проведения и метрологического обеспечения испытаний продукции наноиндустрии. Организаторами школы являются Государственная корпорация «Российская корпорация нанотехнологий» и Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии.